示踪粒子的粒径选择因素

　　有色金属（选矿部分）其粒径从几微米至一百多微米不等，密度与水相当。测试时，激光束照射到微球上产生米氏散射并由带有滤波片的CCD相机捕获成像。但是浮选机的叶轮、定子结构的反射光非常强，频率又同微球的散射光一致，这就易导致CCD相机因光强过强而损坏。所以，常用的SiO2微球不能作为浮选机流场测试的示踪粒子。

　　为此浮选机PIV测试时仅能采用荧光示踪粒子，其在激光束照射下会激发出532nm以上的荧光，在高速CCD相机前配上540nm以下光波截止的滤波片，就使相机仅捕获到荧光并成像，同时避免了叶轮、定子的强反射光（532nm以下为主）。

　　示踪粒子的粒径选择同测试流场的大小、测试速度、经济成本等相关。一般较小的粒径跟随性较好，但是小粒径在大流场中存在相机无法辨识、价格高昂等问题。KYF-0.2的测试流场约为700×600mm，已属于很大的测试流场，故综合考虑测试性能和经济成本，选用荧光三聚氰胺微球，粒径为51.7μm.另外，为使示踪粒子能够均匀散布于流场内，一般需将示踪粒子先期置于超声波水域中进行预分散。测试区域的选择PIV是一种基于光学成像的测试方法，由于叶轮叶片和定子叶片会相互遮挡光信号，因此无法同时获取浮选机纵截面的全部流场区域，必须采用分区获取的方法。另外，不得不指出，过大的流场测试区因流场内速度差过大而降低测试的准确度和精度，故分区测试更有利于槽内流场的准确测量。